LDJD-C型塑料介電常數及介質損耗測試儀——航天偉創
LDJD-C型塑料介電常數及介質損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。

LDJD-C型塑料介電常數及介質損耗測試儀——航天偉創

該介電常數儀測試系統由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和自動測量控件以及電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。

系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的&佳解決方案。

工作特性

1.     平板電容器：

       極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

       極片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10^－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

工作原理

本測試裝置主要由一個數顯的微測量裝置和一組間距可調的平板電容器組成，平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數顯的微測量裝置，用于顯示被測材料樣品的厚度。陪測設備介電常數及介質損耗測試儀作為調諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的Q值變化，可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數。

北京航天偉創設備科技有限公司生產經營多種型號介電常數儀，具體如下：

LDJD-C型

LDJD-B型

LDJD-A型

LDJD-C型塑料介電常數及介質損耗測試儀——航天偉創